Ｒｅｐｏｒｔ［ＬＳＩ］〜ＬＳＩテスターの初期導入コストを低減 １ピン単位でアップ・グレード可能
日経マイクロデバイス 第238号 2005.4.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第238号（2005.4.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全1440字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （54kb） |
| 雑誌掲載位置 | 96ページ目 |
米Ａｇｉｌｅｎｔ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ Ｉｎｃ．は，１ピン単位でアップ・グレードが可能なＬＳＩテスターの事業を始めた。同社はこのライセンス方式を「ＩｎｓｔａＰｉｎ ｐｅｒ−ｐｉｎ， ｆｌｏａｔｉｎｇ ｌｉｃｅｎｓｅ」と呼ぶ（図１）。まず，ＳｏＣ（ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ ａ ｃｈｉｐ）向けＬＳＩテスター「Ａｇｉｌｅｎｔ ９３０００ ＳＯＣシリーズ」向けのデジタル・テスト・モジュールに，このライセン…
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