Ｓｐｅｃｉａｌ Ｆｅａｔｕｒｅ〜６５〜４５ｎｍ対応に向け 最先端検査技術を提供
日経マイクロデバイス 第234号 2004.12.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第234号（2004.12.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全802字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （214kb） |
| 雑誌掲載位置 | 118ページ目 |
Ｋｅｎｎｅｔｈ Ｓｃｈｒｏｅｄｅｒ 氏Ｃｈｉｅｆ Ｅｘｅｃｕｔｉｖｅ Ｏｆｆｉｃｅｒ ２００５年は，９０ｎｍの量産，６５ｎｍの評価からパイロット生産への移行，および４５ｎｍに向けた研究開発のサポートに全力で取り組んでいく。われわれの戦略は，最良の検査・測定機器をＬＳＩメーカーに提供していくことに尽きる。新製品の開発と投資を続け，ユーザーの技術開発と生産性向上の手助けとなるように努めていく。 ２００…
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