Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ〜半導体パラメータ測定器「Ａｇｉｌｅｎｔ ４１５７Ｂ」
日経マイクロデバイス 第233号 2004.11.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第233号（2004.11.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全717字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （349kb） |
| 雑誌掲載位置 | 104ページ目 |
測定可能な電流が最小１００ａＡ（ａは１０−１８）の半導体パラメータ測定器（図１）。開発元の米Ａｇｉｌｅｎｔ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ Ｉｎｃ．が販売している従来品の最低１ｆＡに比べて一ケタ小さい。トランジスタのゲート・リーク電流を抑えるための研究開発や，トランジスタのデバイス特性のモデル化などの用途に活用できる。微小電流を測定できるようになったのは，新規開発の「アトセンス・スイッチ・ユニット」と…
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