ＷＥＢ Ａｃｃｅｓｓ Ｒａｎｋｉｎｇ［Ｌｏｇｉｃ］〜「ＩＣＭＴＳ ２００４」 ＲＦ・アナログ混載ＩＣ向けＴＥＧなどが話題
日経マイクロデバイス 第224号 2004.2.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第224号（2004.2.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全494字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （125kb） |
| 雑誌掲載位置 | 84ページ目 |
ＬＳＩにおけるＴＥＧ（ｔｅｓｔ ｅｌｅｍｅｎｔ ｇｒｏｕｐ）の測定・評価に関する論文を取り扱う国際会議「ＩＥＥＥ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ ｏｎ Ｍｉｃｒｏｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ Ｔｅｓｔ Ｓｔｒｕｃｔｕｒｅｓ ２００４（ＩＣＭＴＳ ２００４）」が，２００４年３月２２〜２５日に兵庫県で開催される。今回は，一般論文５３件と招待論文５件が集まった。主なテーマは次の四つである。（…
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