緊急特集 Ｐａｒｔ２〜メモリーで故障が多発 微細化加速が一因に
日経マイクロデバイス 第209号 2002.11.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第209号（2002.11.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全992字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （267kb） |
| 雑誌掲載位置 | 72ページ目 |
ＬＳＩプロセス 信頼性 メモリー不良率が１０００ｐｐｍ以上のメモリーの重大な信頼性の故障は，１９９０年代前半の１回／年のペースから後半に入って増加，２００１年には５件に達している。「ＬＳＩの信頼性が揺らいでいる」というＬＳＩ技術者の指摘が，事実であることを明確に示すデータをＬＳＩ動作解析研究会に所属するアドバンテストが示した。２００２年９月に宮崎で開かれた「２００２年電子情報通信学会ソサイエティ大…
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