緊急特集 Ｐａｒｔ２ 囲み〜日本の信頼性が「危ない」 信頼性の評価機関設立へ
日経マイクロデバイス 第209号 2002.11.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第209号（2002.11.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全1171字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （267kb） |
| 雑誌掲載位置 | 74ページ目 |
東京大学教授新領域創成科学研究科基盤情報学専攻柴田 直 氏 ＬＳＩの信頼性が揺らいでいる。今回起きたパッケージに起因すると見られるＬＳＩの故障は氷山の一角であり，水面下には類似の問題が隠れていると見る。この問題は，信頼性や品質の高さを売物に市場を獲得してきた日本メーカーにとって，特に深刻な問題である。この解決策として，２００２年３月にＬＳＩ動作解析研究会を発足させ，さらに信頼性評価や故障解析技術の…
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