μレポート［ＬＳＩ設計］〜シミュレーションでは 見つけられないバグを 数分で特定する検証技術
日経マイクロデバイス 第208号 2002.10.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第208号（2002.10.1） |
|---|---|
| ページ数 | 2ページ （全2105字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （91kb） |
| 雑誌掲載位置 | 37〜38ページ目 |
検証システムＬＳＩＥＤＡツール「論理シミュレーションでは見つけられないバグを数分で特定できる」。こうした新しい検証技術の効果が設計現場で見えてきた。プロパティ・チェックと呼ぶシミュレーションの補完技術である。これまでは問題が多いと考えられていたが，ＥＤＡツールの進化によって実際の設計に適用する事例が増えてきた。その一例として富士通ディジタル・テクノロジ（ＦＤＴ）が具体的な効果を示している。 論理シ…
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