ブレークスルー〜「苦い経験がバネに」
日経マイクロデバイス 第208号 2002.10.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第208号（2002.10.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全1294字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （107kb） |
| 雑誌掲載位置 | 3ページ目 |
電磁波妨害（ＥＭＩ）の対策回路をボード上に実装するのではなくシステムＬＳＩに内蔵する技術をＮＥＣとその設計子会社が開発した。ＥＭＩが原因でＬＳＩの量産がとん挫したという苦い経験が成果につながった。ＮＥＣマイクロシステム先端ＬＳＩ事業部先端ＬＳＩテクノロジーセンター渡邊 広幸 氏１９６６年，福島県生まれ。１９８８年，工学院大学電子工学科卒業。同年，ＮＥＣアイシーマイコンシステム入社（２００１年４月に…
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