論文[LSI設計]〜システムLSI技術基盤 IP利用設計・製造の課題解決
日経マイクロデバイス 第201号 2002.3.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第201号(2002.3.1) |
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ページ数 | 6ページ (全6084字) |
形式 | PDFファイル形式 (302kb) |
雑誌掲載位置 | 119〜124ページ目 |
システムLSIIP設計環境多種多様なIP(intellectual property)をブラック・ボックス的に採用するための技術インフラが欠けているため,IPの再利用は当初期待されたようには進んでいない。STARC(半導体理工学研究センター)ではこの点に着目し,IP活用に障害となっている技術インフラの問題点を特定し,それらを改善するべく技術整備活動を進めている。前回は,IP検索・評価・品質の課題を…
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