Ｄｅｔａｉｌｓ ＬＳＩ（メモリー）〜１０００台出荷の成功体験を 活かしたアドバンテストの メモリー・テスター戦略
日経マイクロデバイス 第174号 1999.12.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第174号（1999.12.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全1169字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （161kb） |
| 雑誌掲載位置 | 196ページ目 |
検査・分析テスターＤＲＡＭ大ヒットを記録したメモリー・テスター「Ｔ５５８１」の後継２機種をアドバンテストが発売した。１機種で累積１０００台という出荷台数は，テスターだけではなく半導体製造装置・検査装置全体でも過去最高水準である。このＴ５５８１の成功を分析し，今回の製品にも同じようにヒットさせる仕掛けを施した。 過去４年で「Ｔ５５８１」が達成した１０００台という累積出荷台数は，テスターだけではなく半…
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