NewsLetter LSI(メモリー)〜米Ramtronと日本真空技術 0.25μm以降の強誘電体 メモリー技術を共同開発
日経マイクロデバイス 第168号 1999.6.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第168号(1999.6.1) |
---|---|
ページ数 | 1ページ (全312字) |
形式 | PDFファイル形式 (38kb) |
雑誌掲載位置 | 153ページ目 |
強誘電体メモリー大容量化提携 米Ramtron International Corp.と日本真空技術は,0.25μm以降の強誘電体メモリー技術の共同開発に関して基本合意した。CVD,エッチング,結晶化などの各プロセス技術と,そこに使われる製造装置を共同開発する。これによって,Ramtronは強誘電体メモリーの4Mビット以上への大容量化を加速する。一方,日本真空技術は2002年に300億円に拡大する…
記事の購入(ダウンロード)
購入には会員登録が必要です 会員登録はこちら
価格 330円(税込)
他のIDで購入する
G-Search ミッケ!は雑誌を記事ごとに販売するサービスです。
この記事は「1ページ(全312字)」です。ご購入の前に記事の内容と文字数をお確かめください。
(注)特集のトビラ、タイトルページなど、図案が中心のページもございます。