特報〜Cプログラムの検証をモデル検査で NECや松下が相次ぎ技術開発
日経エレクトロニクス 第965号 2007.11.19
掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第965号(2007.11.19) |
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ページ数 | 2ページ (全2751字) |
形式 | PDFファイル形式 (303kb) |
雑誌掲載位置 | 12〜13ページ目 |
NECおよび松下電器産業は,「モデル検査(model checking)」†と呼ぶ技術を応用して,メモリ・リーク†などC言語プログラムの実行時エラーを検出する技術を,それぞれ開発した注1)。一般にメモリ・リークなどの実行時エラーは,プログラムを実際に実行するテスト,特に開発工程後半のシステム・テスト時に検出することが多いが,今回の技術は一種の静的検証ツールとして利用できるため,ソース・コードが出…
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