チュートリアル 静電気放電から機器を守る〜誤動作原因はイミュニティ試験をくぐり抜ける（上）
日経エレクトロニクス 第960号 2007.9.10
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第960号（2007.9.10） |
|---|---|
| ページ数 | 5ページ （全5599字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （432kb） |
| 雑誌掲載位置 | 156〜160ページ目 |
「原因不明の誤動作が起きる。何の痕跡もなく，何が原因か分からない」─こうした誤動作の原因として疑われるのが静電気放電（ＥＳＤ）である。ＥＳＤに対する電子機器の耐性（イミュニティ）試験を行い，基準値を達成しているにもかかわらず生じる誤動作が，特に問題となっている。（宇野 麻由子＝本誌）森 育子鈴鹿工業高等専門学校助教藤原 修名古屋工業大学 大学院工学研究科教授 半導体技術の飛躍的な進歩に伴うＩＣの微…
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