Ｗｈａｔ’ｓ Ｎｅｗ〜測定分解能は１ｍＶ，５ｎｓ オンチップ測定器が登場
日経エレクトロニクス 第930号 2006.7.17
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第930号（2006.7.17） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全1360字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （201kb） |
| 雑誌掲載位置 | 41ページ目 |
日立製作所とルネサス テクノロジは，ＬＳＩ内部における電源雑音の測定技術を開発した。両社が開発したのはリングオシレータを使った小型の測定回路で，電圧変動を周波数の変動に変換することで，チップ外部の測定器で計測する際に伝送路で発生する雑音に対する耐性を高めた。測定可能な電源雑音の変動幅は１ｍＶで，時間分解能は５ｎｓである（図１）。最大で６９ｍＶの電圧変動を測定できる。 今回開発した電源雑音測定回路…
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