ＮＥＴｓ連載講座〜テスト　Ｇビット／秒の高速シリアル伝送が　測定器の試験方法を変える（下）
日経エレクトロニクス　第870号　2004.3.29

この記事の情報
掲載誌	日経エレクトロニクス　第870号（2004.3.29）
ページ数	5ページ　（全5109字）
形式	PDFファイル形式　（143kb）
雑誌掲載位置	138〜142ページ目

高速化に伴ってシグナル・インテグリティの評価が難しくなっている。前回はその原因と従来の測定機器では評価に限界があることを紹介した。今回はプローブやオシロスコープ，アナライザの製品動向を探る。（本誌）　数Ｇビット／秒という高速シリアル伝送時のシグナル・インテグリティ（信号波形や電源電圧の歪みや劣化）を評価する場合，測定器のプローブは，測定システムの中で最も重要な部品となる。測定器メーカーは，高速伝送…