NETs連載講座〜テスト Gビット/秒の高速シリアル伝送が 測定器の試験方法を変える(上)
日経エレクトロニクス 第869号 2004.3.15
掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第869号(2004.3.15) |
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ページ数 | 3ページ (全2707字) |
形式 | PDFファイル形式 (55kb) |
雑誌掲載位置 | 148〜150ページ目 |
「PCI Express」などの登場で,従来の測定手法が通用しなくなってきた。その原因と新たな評価試験について連載する。今回はシリアル伝送の影響を探る。(本誌) 数Gビット/秒という高速のシリアル伝送の需要が拡大したことで,測定器にも大きな変化が起こりつつある。影響を大きく受けている装置が,リアルタイム・オシロスコープやサンプリング・オシロスコープ,デジタル通信アナライザ(DCA),タイムインター…
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