技術速報〜最小分解能が１．３ｍｍの非接触電流プローブを ＮＥＣが開発，ＬＳＩの電源電流の測定が可能に
日経エレクトロニクス 第734号 1999.1.11
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第734号（1999.1.11） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全533字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （26kb） |
| 雑誌掲載位置 | 19ページ目 |
ＮＥＣは，最小分解能が１．３ｍｍの非接触電流プローブを開発し，１９９９年１月に販売を始めた。このプローブを使いＬＳＩの電源電流の高周波成分を測定し，電子機器が放射する電磁雑音の原因を突き止めることをねらう。ＬＳＩメーカや機器メーカのプリント回路基板設計部門に向ける。 開発したプローブでは，磁界を検出することで電流を求める。すなわちループ状のプローブをＬＳＩ端子／配線パターンに近づけ，磁界がループ…
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