Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＭＥＭＳ］〜特許情報を基に技術間の「距離」を定量化異分野参入時の判断材料に
日経マイクロデバイス　第270号　2007.12.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第270号（2007.12.1）
ページ数	2ページ　（全443字）
形式	PDFファイル形式　（339kb）
雑誌掲載位置	216〜217ページ目

　東京工業大学　精密工学研究所　客員教授の大嶋洋一氏は，１１月６日に開かれた「第４回東京工業大学精密工学研究所知財シンポジウム」で講演し，対象とする技術分野の規模と，半導体技術との関連性（距離感）を特許情報に基づいて定量化する分析手法を説明した。特許面で見た技術の規模は，「ＳＰレシオ（ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ　ｐａｔｅｎｔ　ｒａｔｉｏ）」という指標，半導体技術との関連性は「ＴＣディスタンス（ｔｅ…