Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜「手を抜いたところにバグが必ず残る」ＥＳＬ検証の重要性を富士通が講演
日経マイクロデバイス 第269号 2007.11.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第269号（2007.11.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全412字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （302kb） |
| 雑誌掲載位置 | 123ページ目 |
サン・マイクロシステムズと検証用ＥＤＡ（ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ ｄｅｓｉｇｎ ａｕｔｏｍａｔｉｏｎ）ベンダーの日本法人／代理店が開催したセミナー「Ｖｅｒｉｆｙ２００７ Ｊａｐａｎ」が東京で９月１４日に行われた。午後には，「ＥＳＬを徹底活用！ ＳｏＣの一発完動からシステムの一発完動へ ─絵に描いた餅を現実のソリューションに─」と題し，富士通 電子デバイス事業本部 設計技術統括部 第三設計部 部長の長…
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