Ｒｅｐｏｒｔ［ＥＤＡ］〜富士通，６５ｎｍ世代以降に向けて統計的タイミング解析の精度を向上
日経マイクロデバイス 第268号 2007.10.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第268号（2007.10.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全2170字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （314kb） |
| 雑誌掲載位置 | 104ページ目 |
富士通の電子デバイス事業本部は，６５ｎｍ世代以降のチップ設計に向けて，統計的タイミング解析（ＳＳＴＡ：ｓｔａｔｉｓｔｉｃａｌ ｓｔａｔｉｃ ｔｉｍｉｎｇ ａｎａｌｙｓｉｓ）の強化を図った。ＳＳＴＡを使うと，プロセスの微細化に連れて大きくなるバラつきの影響を考慮して，信号パスの遅延時間を設計時に解析できる。従来の９０ｎｍ世代向けのＳＳＴＡでは主にランダム・バラつきの影響を考慮していた。今回，システ…
記事の購入（ダウンロード）
購入には会員登録が必要です 会員登録はこちら
価格 330円（税込）
他のIDで購入する
G-Search ミッケ！は雑誌を記事ごとに販売するサービスです。
この記事は「1ページ（全2170字）」です。ご購入の前に記事の内容と文字数をお確かめください。
（注）特集のトビラ、タイトルページなど、図案が中心のページもございます。
Ｒｅｐｏｒｔ［ＬＳＩ］〜３２ｎｍ量産は２００９年１０〜１２月からＴＳＭＣが技術ロードマップを披露
Ｒｅｐｏｒｔ［ＭＥＭＳ］〜東北大，リコーやトヨタなど１１社がＭＥＭＳの産学協同プロジェクト始動
Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＬＳＩ］〜「ＮＡＮＤ型フラッシュ・メモリーのトップ・シェアを目指す」東芝社長が新工場の竣工式で宣言
Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＬＳＩ］〜アルバック太陽電池の試作ラインを稼働海外メーカーの利用にも
Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＬＳＩ］〜「２００９年度に１１００億円超」目指すＮＥＣエレがパワー半導体事業を加速海外市場も開拓
