Key Person キー・パーソン〜20nm以降も微細化をリード
日経マイクロデバイス 第265号 2007.7.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第265号(2007.7.1) |
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ページ数 | 2ページ (全2885字) |
形式 | PDFファイル形式 (1146kb) |
雑誌掲載位置 | 28〜29ページ目 |
「非プレーナ型MOS FET時代も微細化で業界をリードする」。米Intel Corp.のLSI製造技術戦略を統括するPaolo A. Gargini氏は,「Mooreの法則」を20nm以降も維持できると強い自信を見せる。45nm世代で高誘電率(high−k)ゲート絶縁膜/メタル・ゲートを実用化するなど,抜きん出た技術力を持つIntel。その強さの源泉をGargini氏に聞いた。米Intel Cor…
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