Ｎｅｗ　Ｐｒｏｄｕｃｔｓ　試験速度を２〜４倍に高速化〜試験速度を２〜４倍に高速化
日経マイクロデバイス　第239号　2005.5.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第239号（2005.5.1）
ページ数	1ページ　（全612字）
形式	PDFファイル形式　（137kb）
雑誌掲載位置	103ページ目

　試験速度を従来の２〜４倍に高速化した電子計測器（図６）。電子部品やＬＳＩのＩ−Ｖ特性評価などに使える。従来の製品は測定レンジの切り替えに時間がかかっていたため，データの読み出し速度をいくら高めても，試験速度全体の高速化には限界があった。これは，測定レンジの切り替え時に雑音が発生しやすく，信号の安定化に時間がかかることに起因する。そこで今回の製品では，レンジ切り替え回路の構成を見直し，雑音の発生を…