Ｃｏｖｅｒ Ｓｔｏｒｙ デバイス新産業創造〜アルデート● テスト技術でファブレスの事業化を支援
日経マイクロデバイス 第236号 2005.2.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第236号（2005.2.1） |
|---|---|
| ページ数 | 2ページ （全2222字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （58kb） |
| 雑誌掲載位置 | 38〜39ページ目 |
アルデートは，国内ではあまり見かけない，ＬＳＩのテスト設計に特化した技術サービス企業である。テスト設計とは，ＬＳＩテスターを稼働させるためのテスト・プログラムや，ＬＳＩテスターからチップに送り込むテスト・パターンを作る工程を言う。ＬＳＩの大規模化・高速化で，チップ設計や製造だけではなく，テストも難しくなっている。特にファブレス半導体メーカーのベンチャ企業や大学にとって，テスト設計の負担は大きい。…
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