ＷＥＢ　Ａｃｃｅｓｓ　Ｒａｎｋｉｎｇ［Ｍｅｍｏｒｙ］〜アドバンテスト　２．１３３ＧＨｚ対応メモリーＬＳＩテスターを発表
日経マイクロデバイス　第235号　2005.1.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第235号（2005.1.1）
ページ数	1ページ　（全321字）
形式	PDFファイル形式　（39kb）
雑誌掲載位置	110ページ目

　アドバンテストは，最大テスト周波数が１．０６６ＧＨｚ（通常モード）／　２．１３３ＧＨｚ（ＤＤＲ　モード）と高速なメモリーＬＳＩテスター「Ｔ５５０１」を発売した。ＧＤＤＲ３／４シンクロナスＤＲＡＭ（ＳＤＲＡＭ）や　ＤＤＲ３　ＳＤＲＡＭなど，最新の高速メモリーのテストに向けた。この製品は，ソース・シンクロナス方式に対応した，マルチストローブ位相差判定機能や，１．８３ｐｓの分解能と＋／−７ｐｓのクロッ…