ＷＥＢ Ａｃｃｅｓｓ Ｒａｎｋｉｎｇ［Ｍｅｍｏｒｙ］〜アドバンテスト 設置面積半減の メモリー・テスターを発売
日経マイクロデバイス 第234号 2004.12.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第234号（2004.12.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全402字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （38kb） |
| 雑誌掲載位置 | 174ページ目 |
アドバンテストは，１テスト・ヘッド（テスト・ステーション）専用構成にして小型化を図ったメモリーＬＳＩテスター「Ｔ５３７７Ｓ」を発売した。従来のＴ５３７７メモリ・テスト・システムに比べ，設置フロア面積を約半分に縮小できるとする。ＲＡＭやシンクロナスＤＲＡＭ，ＤＤＲ型シンクロナスＤＲＡＭといった汎用メモリーＬＳＩのウエーハ試験，およびフラッシュ・メモリーのパッケージ試験に向ける。今回の製品は，市場で…
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