ＷＥＢ Ａｃｃｅｓｓ Ｒａｎｋｉｎｇ［Ｍｅｍｏｒｙ］〜チップ埋め込みメモリーのテストで 実用的な提案が相次ぐ 「ＩＴＣ２００４」
日経マイクロデバイス 第234号 2004.12.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第234号（2004.12.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全611字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （38kb） |
| 雑誌掲載位置 | 174ページ目 |
米ノース・カロナイナ州で開催している，テスト関連の学会／展示会「Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｔｅｓｔ Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ ２００４（ＩＴＣ２００４）」のＳＥＳＳＩＯＮ３５「Ｅｍｂｅｄｄｅｄ Ｍｅｍｏｒｉｅｓ ＢＩＳＴ ａｎｄ Ｒｅｐａｉｒ」では，大容量・高性能化が著しい，チップ埋め込みメモリー・ブロックに対するＢＩＳＴ（ｂｕｉｌｔ−ｉｎ ｓｅｌｆ ｔｅｓｔ）およびリペア技術に関する講演があった…
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