Ｒｅｐｏｒｔ［ＬＳＩ］〜リスク回避と低コスト化を実現する 次世代の工場管理システムを開発
日経マイクロデバイス 第234号 2004.12.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第234号（2004.12.1） |
|---|---|
| ページ数 | 4ページ （全4719字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （89kb） |
| 雑誌掲載位置 | 168〜171ページ目 |
次世代に向けて半導体工場を管理するための新たなＣＩＭシステムを開発した。コンセプトは「必要な工場を必要なタイミングで立ち上げられること」である。 このＣＩＭシステムの導入により，パイロット・ラインの立ち上げ前に工場の能力を予測できるため，さまざまなリスクを回避できる。さらに，ＣＩＭのハードウェアを現場でテストする必要がなく，ＣＩＭシステム・メーカー側でテストできる。ソフトウェアは，すでにテストが…
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