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Interview〜メモリー依存からどう抜け出すか
日経マイクロデバイス 第229号 2004.7.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第229号(2004.7.1) |
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ページ数 | 2ページ (全2747字) |
形式 | PDFファイル形式 (57kb) |
雑誌掲載位置 | 184〜185ページ目 |
アドバンテストがSoC(system on a chip)テスターの攻略に本腰を入れ始めた。競合が大手ユーザーとの間に築いた密接な開発関係を,“オープン化”戦略で崩す。メモリー・テスターでは市場の半分近くを制する同社だが,SoCテスターのシェアは10%と小さい。これを2倍に高め,メモリー・テスターの売り上げ変動に影響されにくい事業体質を作るという。アドバンテスト 代表取締役 執行役員社長丸山 利雄…
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