ＷＥＢ Ａｃｃｅｓｓ Ｒａｎｋｉｎｇ［Ｌｏｇｉｃ］〜勝ち組みキヤノンを支える 他のＬＳＩ現場とは異なる ＳｏＣ検証体制とは？
日経マイクロデバイス 第223号 2004.1.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第223号（2004.1.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全528字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （129kb） |
| 雑誌掲載位置 | 116ページ目 |
キヤノンのＳＯＣデザインセンターの所長を務める谷泰弘氏は，ＬＳＩの検証に的を絞ったセミナー「Ｖｅｒｉｆｙ ２００３ ｉｎ Ｊａｐａｎ」で講演し，同社のＬＳＩ検証体制などについて語った。同社は，いわゆる「勝ち組み」の企業である。それを支える技術の一つが画像処理ＬＳＩを中心としたＳｏＣ（ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ ａ ｃｈｉｐ）といえる。Ｖ字回復で脚光を浴びている松下電器産業でも，商品の「世界同時立ち上げ」…
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