Ｒａｎｋｉｎｇ［Ｍｅｍｏｒｙ］〜ＭＯＳ ＩＣラインの稼働率 旧設備の廃棄で稼働率が改善
日経マイクロデバイス 第217号 2003.7.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第217号（2003.7.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全224字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （63kb） |
| 雑誌掲載位置 | 131ページ目 |
ＭＯＳ ＬＳＩラインの稼働率が改善してきた。世界半導体生産キャパシティ統計（ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ ｃａｐａｃｉｔｙ ｓｔａｔｉｓｔｉｃｓ：ＳＩＣＡＳ）が発表した２００３年第１四半期の稼働率は対前期比１．７ポイント増，対前年同期比５．５ポイント増の８３．６％になった。ただし，稼働率の改善は，設計ルールが０．４μｍ以上の古い量産ラインの廃棄が進んだことが主要因であり…
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