連載［デザイン・スキルアップ講座］〜隠れたバグを見つけるために（前編）　〜ランダム・テスト〜
日経マイクロデバイス　第213号　2003.3.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第213号（2003.3.1）
ページ数	5ページ　（全7546字）
形式	PDFファイル形式　（289kb）
雑誌掲載位置	126〜130ページ目

検証ランダム・テストテスト・ベンチ「ランダム・テストの活用なくして論理検証に未来はない」。条件をランダムに変えながら隠れたバグを見つける「ランダム・テスト」の重要性を著者はこのように表現している。この手法は米国シリコンバレーでは標準的に使っているが，日本ではほとんど使っていないのが現状である。ランダム・テストの効率的な利用には手間のかかる準備が必要だが，日本のマネージャは，そのわずらわしさに惑わさ…