連載［デザイン・スキルアップ講座］〜検証が危ない！ 広がる技術格差
日経マイクロデバイス 第211号 2003.1.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第211号（2003.1.1） |
|---|---|
| ページ数 | 4ページ （全6040字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （164kb） |
| 雑誌掲載位置 | 146〜149ページ目 |
検証設計システムＬＳＩ「米国から見ると日本のＬＳＩ検証は“お粗末”の一言に尽きる」。シリコンバレーでＬＳＩ検証技術のコンサルタントを務めた経験を持つサイバーテック技術部の野々下博氏は，日本の現状をこう指摘する。例えば，チップの試作を急ぐあまり，論理検証が不十分なまま製造し，数回目の試作でようやくチップを動作させることが日本では珍しくない。シリコンバレーでこれをやったら会社がつぶれるか，少なくともマ…
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