Emerging Tech 解説 半導体製造装置〜「先端半導体にはEUV露光装置」に待った キヤノンのナノインプリントの実力
日経エレクトロニクス 第1261号 2024.3.1
掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第1261号(2024.3.1) |
---|---|
ページ数 | 5ページ (全3232字) |
形式 | PDFファイル形式 (1029kb) |
雑誌掲載位置 | 68〜72ページ目 |
数nm世代の最先端半導体には、オランダASMLの極端紫外線(EUV)露光装置が必須─。そんな状況にキヤノンが風穴を開けた可能性がある。長年、研究開発を続けてきたナノインプリントリソグラフィー(NIL)装置を実用化したのだ(図1)。2023年10月13日から、同装置の販売を開始した。5nm世代に必要な最小線幅14nmの回路パターンを描画できる。ASMLの開口数0.33のEUV露光装置で実現できる最小…
記事の購入(ダウンロード)
購入には会員登録が必要です 会員登録はこちら
価格 550円(税込)
他のIDで購入する
G-Search ミッケ!は雑誌を記事ごとに販売するサービスです。
この記事は「5ページ(全3232字)」です。ご購入の前に記事の内容と文字数をお確かめください。
(注)特集のトビラ、タイトルページなど、図案が中心のページもございます。