ＮＥレポート〜量子力学で顕微鏡を高性能に 低光量時のＳ／Ｎが向上
日経エレクトロニクス 第1119号 2013.10.14
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第1119号（2013.10.14） |
|---|---|
| ページ数 | 2ページ （全2035字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （450kb） |
| 雑誌掲載位置 | 16〜17ページ目 |
北海道大学 電子科学研究所 教授の竹内繁樹氏の研究チームは、光子の「量子もつれ」現象を利用することで、「微分干渉（ＤＩＣ）顕微鏡」と呼ぶ種類の顕微鏡の性能を高めることに成功した。 量子もつれとは、複数の粒子などの間に古典的な物理学では説明がつかない非局所相関†ができている状態を指す。量子力学が扱う現象の一つで、量子コンピュータなどでの応用が考えられているが、実際の機器の中で役に立った例はこれまで…
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