解説２〜壊して作るＨＡＬＴ活用設計 コスト競争力の源泉に
日経エレクトロニクス 第1067号 2011.10.17
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第1067号（2011.10.17） |
|---|---|
| ページ数 | 8ページ （全7352字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （5122kb） |
| 雑誌掲載位置 | 65〜72ページ目 |
試作段階の電子機器に強烈な温度変化と振動を加えて壊し、弱点を補強することで機器の信頼性を高める─。この「ＨＡＬＴ」と呼ぶ試験技術が、日本でもようやく広がり始めた。これまでＨＡＬＴに懐疑的だったメーカーもＨＡＬＴの良さに気付き始め、全社展開に踏み出すところも出てきている。背景にあるのは、コストと時間がかかりすぎる日本流ものづくりへの危機感だ。（写真：Ｇｅｔｔｙ Ｉｍａｇｅｓ） 「この結果には、正直驚…
記事の購入（ダウンロード）
購入には会員登録が必要です 会員登録はこちら
価格 550円（税込）
他のIDで購入する
G-Search ミッケ！は雑誌を記事ごとに販売するサービスです。
この記事は「8ページ（全7352字）」です。ご購入の前に記事の内容と文字数をお確かめください。
（注）特集のトビラ、タイトルページなど、図案が中心のページもございます。
クローズアップ デジタルヘルス〜医療機器の「デバイスラグ」解消に向け
解説１〜低消費電力化に 本腰入れるＩｎｔｅｌ社
技術者の本棚 私が好きな本〜「考えない時代」に終止符を
解説３〜規制強化で始まる 欧州の電動車両
ＮＥアカデミー とことん基礎から理解する“磁界共鳴”型ワイヤレス給電〜第１回 “磁界共鳴”型と電磁誘導型は どう違う？
