NEレポート〜SiCに迫るGaNパワー素子 トランジスタで耐圧1kV超
日経エレクトロニクス 第1056号 2011.5.16
掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第1056号(2011.5.16) |
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ページ数 | 2ページ (全1966字) |
形式 | PDFファイル形式 (498kb) |
雑誌掲載位置 | 14〜15ページ目 |
現行のSiに続く、パワー半導体素子(以下、パワー素子)の次世代材料として注目を集めるSiCとGaN。いずれも製品化が始まっており、耐圧600V以上はSiC、600V以下はGaNとされている。だが、この“常識”が覆される可能性が高まった。国内のベンチャー企業であるパウデックが、耐圧1.1kVで、かつ低コストで製造できるというGaN系パワー・トランジスタの試作に成功したからである(図1)。これで、白…
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