特報〜Ｃ言語による組み込み開発で，メモリ関連のバグがゼロになる
日経エレクトロニクス 第978号 2008.5.19
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第978号（2008.5.19） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全1150字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （199kb） |
| 雑誌掲載位置 | 13ページ目 |
Ｃ言語によるソフトウエア開発には「バッファ・オーバーフロー」をはじめとするメモリ関連バグが付きまとう。こうしたバグが原理的に起こらないＣ言語処理系が登場した。産業技術総合研究所 情報セキュリティ研究センターの大岩寛氏が開発した「Ｆａｉｌ−Ｓａｆｅ Ｃ」である。メモリ関連のバグが起こらない言語処理系といえばＪａｖａが有名だが，同様の安全性をＣで実現するものだ。２００８年４月に８６系プロセサ向けの最…
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