性能や品質の基準〜SDH/OTNの計測技術 公正な性能競争に必要な標準的な計測手法
日経エレクトロニクス 第962号 2007.10.8
掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第962号(2007.10.8) |
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ページ数 | 10ページ (全12973字) |
形式 | PDFファイル形式 (909kb) |
雑誌掲載位置 | 58〜67ページ目 |
規格認証試験では,合格基準を上回る性能や品質には大した意味がありません。しかし,基幹網の市場では基準を超えた製品仕様を競うことになります。ユーザーが製品を選択するためには,基準になる統一指標が必要です。また,製造時の品質管理や販売後の保守でも,開発時と同じ基準で計測する場合があります。ここでは,基幹網向けの計測基準を題材にして,性能や品質の公正かつ統一的な計測に向けた基準について学びます。石部 和…
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