試験計測の刷新への対応〜Ｓｅｒｉａｌ ＡＴＡの計測技術馴染み深い手法を破棄してでも見直したい試験基準がある
日経エレクトロニクス 第962号 2007.10.8
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第962号（2007.10.8） |
|---|---|
| ページ数 | 10ページ （全14267字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （1036kb） |
| 雑誌掲載位置 | 48〜57ページ目 |
技術標準だけではなく，認証試験の計測手法もまた常に進化しています。標準化団体は認証試験の厳格化に向けて試験内容を常に見直しています。その結果，計測手法自体がガラリと変わってしまった例があります。なじみ深いアイ・ダイヤグラム試験がなくなったＳｅｒｉａｌ ＡＴＡです。ここではＳｅｒｉａｌ ＡＴＡの事例を通じて，認証試験で計測技術が刷新するときの標準化団体側の狙いと刷新後の新常識への対応を解説します。辻…
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