Ｗｈａｔ’ｓ Ｎｅｗ〜基板バイアス技術の信頼性 ＮＥＣエレが１０年間確保メド
日経エレクトロニクス 第877号 2004.7.5
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第877号（2004.7.5） |
|---|---|
| ページ数 | 2ページ （全3225字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （72kb） |
| 雑誌掲載位置 | 24〜25ページ目 |
ＬＳＩの設計ルールの微細化とともに指数関数的に増大する，トランジスタのリーク電流。これを１／１０〜１／１００に抑える手法として大きな期待を集めている基板バイアス技術が，ＬＳＩの信頼性に与える影響とそれを抑える方策が明らかになった。２００４年６月１５日〜１７日に，米国ハワイで開催された半導体関連の国際学会「２００４ Ｓｙｍｐｏｓｉａ ｏｎ ＶＬＳＩ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ ａｎｄ Ｃｉｒｃｕｉｔｓ」…
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