Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｓｈｏｒｔｓ〜ＬＳＩ内部の配線まで検査 ＮＥＣが放射雑音測定プローブを開発
日経エレクトロニクス 第871号 2004.4.12
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第871号（2004.4.12） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全298字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （152kb） |
| 雑誌掲載位置 | 41ページ目 |
ＮＥＣはＬＳＩ内部の電源配線の放射電磁雑音を１本ずつ測定できる微小プローブを開発した。測定可能な配線ピッチは最小４０μｍで分解能が高い。従来のプローブの分解能は２５０μｍ程度で，ＬＳＩのパッケージ・レベルでしか放射電磁雑音を測定できなかった。今回の開発品を使えば，ＬＳＩに集積した複数の回路ブロックのどの部分が放射雑音の原因かを特定できる。この情報を基に回路の設計を見直して放射電磁雑音を抑えること…
記事の購入（ダウンロード）
購入には会員登録が必要です 会員登録はこちら
価格 330円（税込）
他のIDで購入する
G-Search ミッケ！は雑誌を記事ごとに販売するサービスです。
この記事は「1ページ（全298字）」です。ご購入の前に記事の内容と文字数をお確かめください。
（注）特集のトビラ、タイトルページなど、図案が中心のページもございます。
Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｓｈｏｒｔｓ〜ソニーが「Ｐｏｗｅｒ」採用 ＣＥＬＬの時代への布石か
Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｓｈｏｒｔｓ〜 ２００４年は１億７０００万台 世界のカメラ付きケータイ
Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｓｈｏｒｔｓ〜ＮＥＣが顔照合技術 新アルゴリズムで精度２４倍
Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｓｈｏｒｔｓ〜ソニーのＢｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ録画機，第２世代品を年末にも投入
Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｓｈｏｒｔｓ〜電磁石で左右の後輪を自在に駆動，ホンダの新４ＷＤシステム
