Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｓｈｏｒｔｓ〜ＮＥＣが顔照合技術 新アルゴリズムで精度２４倍
日経エレクトロニクス 第871号 2004.4.12
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第871号（2004.4.12） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全241字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （152kb） |
| 雑誌掲載位置 | 40ページ目 |
ＮＥＣは，顔の画像と顔の３次元データを照合するシステムで，本人を照合できる確率を同社従来比で約２４倍に高めた。顔データを登録した１０００人の照合テストを実施し，姿勢や照明環境が大幅に変動する条件下でも照合精度９６．５％を実現できた。開発したアルゴリズムは，３次元の顔データを基に任意の姿勢や照明変動を表現可能な記述子を生成し，登録データとして利用する。照合速度も従来比３倍に高めた。今後は，表情の変…
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