Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｓｈｏｒｔｓ〜実装に５００ｎｍ フォトニック結晶で接続不良を検出 フォトニックラティスが展示
日経エレクトロニクス 第870号 2004.3.29
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第870号（2004.3.29） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全379字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （170kb） |
| 雑誌掲載位置 | 43ページ目 |
フォトニックラティスは，フォトニック結晶を使った撮像素子による検査技術を公開した。ハンダの接続状態を検査する装置に応用すれば，接続不良個所を容易に検出できるようになるという。２００４年後半には実用化したい考え。フォトニック結晶はそれぞれ特定の偏向を持つ光のみを通す。このような撮像素子は，入力光の偏向の度合いを良好に検出できるという。ハンダの接続部の検査に使う場合，不良個所は光が乱反射し，さまざま…
記事の購入（ダウンロード）
購入には会員登録が必要です 会員登録はこちら
価格 330円（税込）
他のIDで購入する
G-Search ミッケ！は雑誌を記事ごとに販売するサービスです。
この記事は「1ページ（全379字）」です。ご購入の前に記事の内容と文字数をお確かめください。
（注）特集のトビラ、タイトルページなど、図案が中心のページもございます。
Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｓｈｏｒｔｓ〜 ９０ｎｍや６５ｎｍルールのＬＳＩ 富士通がＬＳＩ製造ラインを新設 ２００５年４月に稼働
Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｓｈｏｒｔｓ〜 ２５０ｎｍでバイオやＬＳＩ ３００ｍｍのＳｉ基板にパターンを一括形成 日立がインプリント技術で実現
Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｓｈｏｒｔｓ〜原子レベルでバイオ 大日本印刷，立体構造をホログラム画像化 印刷技術を利用する
Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｓｈｏｒｔｓ〜ケータイが世界で５億台売れた
Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｓｈｏｒｔｓ〜Ｎｏｋｉａ社がシェア３４．７％ ２００４年は世界で５億８０００万台に
