Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ〜テスト統合環境 ＬＳＩのテスト開発期間を削減 テスト・データを標準言語で記述
日経エレクトロニクス 第859号 2003.10.27
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第859号（2003.10.27） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全810字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （90kb） |
| 雑誌掲載位置 | 53ページ目 |
横河電機は，システムＬＳＩのテスト関連の開発期間やコストを削減できるテスト統合環境「ＳＴＩＬ／ＴｅｓｔＨｉｇｈｗａｙ」を開発した。テストの各工程間を束ねる共通データベースと，各工程間のデータ変換ソフトウエアなどから成る。テスト・データ記述言語としてＩＥＥＥで標準化された「ＳＴＩＬ」を用いることで，これまで連携が取りづらかったテスト関連の各工程間で，テスト・データをスムーズに受け渡せるようにした。…
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