Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ〜同社既存品に比べてテスト時間を半分に短縮
日経エレクトロニクス 第803号 2001.8.27
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第803号（2001.8.27） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全244字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （99kb） |
| 雑誌掲載位置 | 54ページ目 |
米Ａｇｉｌｅｎｔ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ，Ｉｎｃ．は，携帯電話機に搭載するパワー・アンプＩＣなどのＲＦ ＩＣ向けテスタ「Ａｇｉｌｅｎｔ ８４０００ ＲＦＩＣシリーズ モデル Ａ２２ｐａ」を発売した。同社従来品に比べて，テスト時間を半分にできる場合がある。１００Ｍサンプル／秒の任意波形発生器を内蔵する。測定チャネル数は２。オプション・ボードを増設した場合は最大８。アジレント・テクノロジーＴＥＬ（０…
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