技術速報〜米Apsim社とNEC,LSI内部の高周波電流を算出し EMI解析の精度を上げるためのEDAツールを共同開発
日経エレクトロニクス 第789号 2001.2.12
掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第789号(2001.2.12) |
---|---|
ページ数 | 1ページ (全577字) |
形式 | PDFファイル形式 (28kb) |
雑誌掲載位置 | 26ページ目 |
米Applied Simulation Technology,Inc.(Apsim社)は,NECと共同で,放射電磁雑音(EMI)を精度良く解析するために,LSI内部回路の高周波電流を算出するEDAツールを開発した。「EMIを解析するツールはこれまでにもあったが,周辺の入出力回路だけを考慮していた。最近のLSIでは,動作周波数の高い内部回路(core logic)の方が問題になる。今回は,そこに焦…
記事の購入(ダウンロード)
購入には会員登録が必要です 会員登録はこちら
価格 330円(税込)
他のIDで購入する
G-Search ミッケ!は雑誌を記事ごとに販売するサービスです。
この記事は「1ページ(全577字)」です。ご購入の前に記事の内容と文字数をお確かめください。
(注)特集のトビラ、タイトルページなど、図案が中心のページもございます。