新製品ニュース〜ＷＤＭ対応光部品の波長分散と偏波モード分散の 両方を１台で試験できるテスタ
日経エレクトロニクス 第789号 2001.2.12
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第789号（2001.2.12） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全537字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （171kb） |
| 雑誌掲載位置 | 78ページ目 |
アドバンテストは，波長分割多重（ＷＤＭ：ｗａｖｅｌｅｎｇｔｈ ｄｉｖｉｓｉｏｎ ｍｕｌｔｉｐｌｅｘｉｎｇ）方式の光通信機器に搭載する光部品に向けた試験機「Ｑ７７６０」を発売した。波長分散測定と偏波モード分散測定の両方を１台で試験できる。光パルス信号の波形の歪など，通信品質に直結する現象をひと通り把握できる。光ファイバや光アッテネータ，カプラ，アイソレータ，フィルタなどの部品検査に向けている。 Ｑ…
記事の購入（ダウンロード）
購入には会員登録が必要です 会員登録はこちら
価格 330円（税込）
他のIDで購入する
G-Search ミッケ！は雑誌を記事ごとに販売するサービスです。
この記事は「1ページ（全537字）」です。ご購入の前に記事の内容と文字数をお確かめください。
（注）特集のトビラ、タイトルページなど、図案が中心のページもございます。
新製品ニュース〜携帯電話機向けのカラー液晶パネル アクティブ方式ながら２．５ｍＷと省電力
新製品ニュース〜平均出力が２０Ｗで小型軽量のレーザ溶接機 光学電子部品のスポット溶接向け
新製品ニュース〜Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈのプロトコル・アナライザ ピコネットに対応
新製品ニュース〜測定時間６．５ｍｓの高速容量測定器 高スループットを要求する製造ラインに向ける
カレンダ〜カレンダ Ｅｖｅｎｔｓ Ｃａｌｅｎｄａｒ
