新製品ニュース〜 １チップ・ビット誤り率計測ＬＳＩ ＋３．３Ｖ単一電源で動作
日経エレクトロニクス 第777号 2000.8.28
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第777号（2000.8.28） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全589字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （240kb） |
| 雑誌掲載位置 | 62ページ目 |
米Ｄａｌｌａｓ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ Ｃｏｒｐ．は，１チップのビット誤り率計測ＬＳＩ「ＤＳ２１３７２」を発売した。＋３．３Ｖ単一電源で動作し，最大３２ビット長の疑似ランダム雑音や，ユーザ定義のディジタル信号パターンをテスト信号として発生できる。発生させたテスト信号を，計測対象の機器や回路に入力し，その出力信号をＤＳ２１３７２にフィードバックして，ビット誤り率を計測する。想定している用途は，…
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