新製品ニュース〜検査時間を既存製品比１／４に短縮できる アナ─ディジ混在ＬＳＩテスタ
日経エレクトロニクス 第760号 2000.1.3
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第760号（2000.1.3） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全452字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （218kb） |
| 雑誌掲載位置 | 54ページ目 |
横河電機は，検査時間を既存の製品に比べて１／４に短縮できるアナログ−ディジタル混在型ＬＳＩ向けテスタ「ＴＳ６０００ｍｉｘ」を２０００年４月に発売する。 ＤＶＤ（ディジタル・ビデオ・ディスク）やＣＤ（コンパクト・ディスク）のプレーヤ，ハード・ディスク装置などに搭載する光磁気ディスクの読み取り信号用アンプＩＣなどに向けた。モータ・ドライバＩＣや電源制御ＩＣ，音声コーデック（符号化／復号化器）ＩＣにも…
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