新製品ニュース〜ｘ１６，ｘ１８ビット・メモリＬＳＩの １２８個同時テストが可能なメモリ・テスタ
日経エレクトロニクス 第759号 1999.12.13
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第759号（1999.12.13） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全464字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （197kb） |
| 雑誌掲載位置 | 66ページ目 |
アドバンテストは，ｘ１６，ｘ１８ビット・メモリＬＳＩの１２８個同時テストが可能なメモリ・テスタ「Ｔ５５８５」を発売した（写真左）。テスト周波数は２５０ＭＨｚ。クロックの立ち上がりと降下エッジの両方でデータを出すことで（ＤＤＲ：ｄｏｕｂｌｅ ｄａｔａ ｒａｔｅモードと呼ぶ），テスト周波数は最高５００ＭＨｚになる。ＤＤＲ型シンクロナスＤＲＡＭにも対応可能という。 今回の製品では，テスト・ヘッド部を液…
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